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Consultar: Programa de Pós-Graduação em Física (Acadêmico)

Título [PT]: Montagem e avaliação da técnica de microscopia fototérmica de reflexão para medida de propriedades termo-ópticas de metais
Autor(es): Pablo Nabuco Portes
Palavras-chave [PT]:

Microscopia fototérmica de reflexão. Microscopia óptica de reflexão. Coeficiente de termorefletância. Difusividade térmica. Propriedades ópticas de metais. Maringá. Paraná. Brasil.

Photothermal microscopy reflection. Optical microscopy reflection. Termorefletância coefficient. Thermal diffusivity. Optical properties of metals. Maringá. Paraná. Brazil.

Antonio Carlos Bento [Orientador] - UEM Mauro Luciano Baesso - UEM Norberto Cella - UERJ

Resumo: A inovação científica faz-se necessária dia após dia, e a busca por técnicas experimentais que permitam abranger novas perspectivas de estudos se torna cada vez mais importante. Neste trabalho, tivemos como meta montar a técnica de Microscopia Fototérmica de Reflexão (MFR) para servir como uma nova ferramenta dos laboratórios de física da UEM. Ela se baseia na dependência da variação da refletância da amostra quando submetida a uma excitação modulada, em nosso caso, feita com a utilização de um laser de bombeio. Depois de posta em funcionamento, buscou-se fazer testes para averiguar a eficiência da montagem. Utilizou-se, para isso, amostras metálicas encontradas com facilidade na oficina mecânica da Universidade. Quais sejam: alumínio, cobre, ferro, aço inox 316, latão e níquel. Os testes inicias, se concentraram em medir o comportamento do sinal fototérmico em função da potência e da freqüência de modulação do feixe bomba. Todas as amostras medidas apresentaram comportamento coerente do sinal fototérmico, diretamente proporcional à potência e inversamente proporcional à freqüência. Em seguida, com um espelho de prata coberto com regiões de fita isolante (preta), fez-se um mapa simples de refletividade da amostra, que atestou o bom funcionamento e comunicação com o motor de passo. Por último, foram realizadas medidas de refletância em duas temperaturas distintas, 25º C e 75º C, com o auxilio de um peltier e um controlador de temperatura, para o cálculo do dR dT das amostras. Apresentamos ainda resultados obtidos para uma amostra de silício, a qual passou pelos mesmos testes dos metais, e permitem-nos concluir que, em vista do tempo e das dificuldades de montagem, pode-se aperfeiçoar o sistema para estudo de semicondutores por fotorefletância óptica. Abstract: The scientific innovation is showing itself to be necessary day after day. So the search for experimental techniques that allow perspectives of new studies are important. In this study, the goal is to build the Photothermal Microscopy of Reflection technique (PMR). It is intended to be a tool for the physics laboratories at UEM. It takes base on the dependency of the reflectance variation on the sample, when this sample is submitted to a modulated state of excitation, in this study case, done with the pump laser. After the system started working, tests were made in order to check its efficiency. In this process, metallic samples easily founded at the UEM's workshop were used. This samples were: aluminum, cooper, iron, stainless steel 316, brass and nickel. These initial tests had as goal to measure the photothermal signal according to the power and the modulation frequency of the pump beam. All measured samples showed a consistent behavior, directly proportional to the power and inverse to the frequency. Then, with a silver mirror covered in some spots with a black tape, a simple sample reflectivity map was made, just to test if the system was working properly. After that, some measures of reflectance were taken in two different temperatures, 25ºC and 75ºC, with assistance of a Peltier and a temperature controller, in order to calculate dR dT of the samples. We exhibited results obtained through the silicon sample, which was submitted to the same tests as the metals, and allow to conclude that, despite the short time and the assemble difficulties, improvements can be made to de system for studies of semiconductors by optical photoreflectance.

Idioma: Português Data de Publicação: 2014 Local de Publicação: Maringá, PR Orientador: Prof. Dr. Antonio Carlos Bento Instituição: Universidade Estadual de Maringá. Centro de Ciências Exatas Nível: Dissertação (mestrado em Física)/ UEM: Programa de Pós-Graduação em Física

Responsavel: zenaide
Categoria: Aplicação
Formato: Documento PDF
Arquivo: pablo_nabuco_portes_2014.pdf
Tamanho: 3321 Kb (3400363 bytes)
Criado: 24-03-2016 11:09
Atualizado: 24-03-2016 11:15
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